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日立鍍層測厚儀 X-Strata920 是一款簡潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制 XRF 臺(tái)式熒光系統(tǒng)，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測量。